Описание: The semiconductor industry uses a wide range of specialty chemicals in various steps of the manufacturing process. Analysis and control of the elemental impurities in these reagents are essential for ensuring the integrity of the final product. In this webinar we will discuss how to overcome the challenges of trace level of impurity analysis in challenging matrices on ICP-OES and AA.
Лектори:
Sima Singha, PhD, ICP-OES Application Scientist, Atomic Spectroscopy, Agilent Technologies, Inc.
Chris Conklin, Atomic Spectroscopy Product Specialist, Agilent Technologies, Inc.
Продължителност: 1 час
Дата: 28 септември 2021, 22:30 ч. българско време
Натиснете бутона, изберете заглавието на уебинара от списъка и попълнете формата за регистрация в дъното на страницата >>